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● 集料外形特征
● 粗集料棱角，圆形光面，纹理和3维构成
● 细集料棱角和二维构成
集料形状特征化
基于颗粒分析的集料图像测量系统提供客观的颗粒棱角、构成和表面纹理的特征。以经济的时间，达到对集料的有价值的深入了解。只需将装有样品的托盘放置到集料图像测量系统，系统将自动获得每个颗粒的图像，并分析其形状特征。
消除人为误差
传统分析方法，如破裂面计数法，耗时而且主观性很强。集料图像测量系统（AIMS）完全消除了操作者的主观因素的影响，提高效率和精确度。
粗集料和细集料
AFA2集料图像测量系统（AIMS）可以处理的集料尺寸从0.075毫米（#200）到25.0毫米（1”），各种尺寸的集料使用专用的托盘单独分析。多个样品托盘可以结合起来实现颗粒计数。也提供堆积混合特征算法。